XRDによる2次元回折像を用いた残留応力のアプローチ

摘要

X線回折法（XRD）を用いた多結晶材料の残留応力評価は，非破壊で比較的短時間で計測·評価が行えるため，現在も広い分野で使用されている．しかし，世界的にも標準法として採用されている(sinψ)~2法は，厳密には平面応力状態のみにしか適用できないため，複雑な応力状態には適用できないという問題がある．本報では，2次元回折像から3軸（triaxial）応力算出する手法について紹介する．