電位差法及び渦電流探傷法による非破壊的な定量評価方法：近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価

摘要

通常，電位差法は電流入出力端子と電位差測定端子の4本の端子を用いて実施する。 一般的な直流電位差法では，き裂から十分離れた位置で直流電流の入出力を行い，一様直流電流下にあるき裂の近傍において電位差を測定する（図1）。 これに対しSakaらは，近接させた電流入出力端子と電位差測定端子とを組み合わせた近接端子プローブを用いることで，従来の一様電流下で実施する直流電位差法を大幅に上回る，高感度な表面き裂の検出および評価が可能であることを報告している。本稿では，はじめに近接端子プローブを用いた直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価について，実施例を交えて概説する。 さらに，著者らが最近，1mm以下の微小き裂の高精度な評価を目的に実施している，近接端子プローブを用いた新しい直流電位差イメージング手法について紹介する。