首页> 外文期刊>Огнеупоры и техническая керамика >Температурный анализ диаграммы плотности системы Al-O-Si
【24h】

Температурный анализ диаграммы плотности системы Al-O-Si

机译:AL-O-SI系统密度图的温度分析

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Анализируется механизм преобразования двухэлементных систем Si-O и Al-O в трехэлементную Al-O-Si. При пересчете использована диаграмма состояния муллита. Все процессы рассматриваются по интервалам через 343 градуса в соответствии с фазовыми границами в объеме вещества и связями со стационарными температурами T_π, обуславливающими начало и окончание структурных изменений.
机译:分析了三元组合体Si-O和Al-O的转换机制。 重新计算迁移状态图时。 根据物质体积的相边界和具有静止温度T_π的键,确定结构变化的开始和结束,所有过程以343度以343度考虑。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号