XMCDによるMn-Ir/Co-Fe積層膜の交換磁気異方性の研究

摘要

交換磁気異方性のメカニズム解明のためには，反強磁性層の磁化過程を理解することが重要である．近年，X線磁気円二色性(XMCD)計測によって，通常の磁化計測法では窺い知ることのできなかった反強磁性層の磁化過程の知見が得られることが報告されて以来、同手法を用いた研究が精力的に行われている．Ohldagらは，強磁性／反強磁性積層膜の複数の材料系においてXMCDによる反強磁性層の元素選択性磁気履歴(ESMH)測定を行った結果，反強磁性層に非補償スピン成分に伴う強磁性成分が誘起されており，その内の一部が磁界印加による強磁性層磁化の反転に際して固着された状態を保ち，交換磁気異方性の起源となっていると論じた．反強磁性層の固着非補償スピン成分は，反強磁性元素のESMHループの縦方向へのシフトとして観測される．