沼津工業高等専門学校電気電子工学科 大津研究室

摘要

Society5.0を担う情報機器に用いられる電子デバイスは半導体素子の高集積化，高速化，低電圧化に伴って益々静電吸引（ESA），静電気放電（ESD），静電気放電に基づく電磁障害（EMI）に対し脆弱となり，これらの電子デバイスの製造，組立，実装工程における製品の歩留 まりや，破壊や誤動作等の信頼性に関わる問題が大きな課題となっている．本研究室では，ESA, ESD，EMI等の問題やコンポーネントやシスアムレベルでの静電気対策技術について研究を行っている．