赤外線法による内部欠陥測定に関する研究

摘要

従来，内部欠陥の非破壊測定法として超音波探傷法，磁粉探傷法などがよく用いられているが，広範囲の測定には多大の労力と時間を要することから，近年，非接触·短時間で広範囲の測定が可能な光励起サーモグラフィ法が注目されている．光励起サーモグラフィ法の内部欠陥測定に関する研究には，測定条件による内部欠陥の深さ方向の検出能力を検討したものや内部欠陥の検出可否のみを簡単に検討したものが多く，内部欠陥の位置や寸法の定量的な推定手法に関する報告は少なかった．本報では，光励起サーモグラフィ法を用いて，複数の光照射周期や光照射時間の下で試験片の内部欠陥を測定し，最適な測定条件において得られた試験片表面温度変化の位相差分布を用いて，試験片内部欠陥幅の定量的な推定を試みたので報告する．