机译:环境扫描电子显微镜中的高质量成像 - 优化压力限制系统和商用ESEM的二次电子检测
Graz Univ Technol TU Graz Inst Electron Microscopy &
Nanoanal FELMI Steyrergasse 17 A-8010 Graz;
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Nanoanal FELMI Steyrergasse 17 A-8010 Graz;
Graz Ctr Electron Microscopy ZFE Steyrergasse 17 A-8010 Graz Austria;
Graz Univ Technol TU Graz Inst Electron Microscopy &
Nanoanal FELMI Steyrergasse 17 A-8010 Graz;
Graz Ctr Electron Microscopy ZFE Steyrergasse 17 A-8010 Graz Austria;
ESEM; environmental scanning electron microscopy; stagnation gas thickness; secondary electron detection;
机译:环境扫描电子显微镜中的高质量成像-优化压力限制系统和市售ESEM的二次电子检测
机译:使用环境扫描电子显微镜和环境扫描透射电子显微镜对半导体聚合物共混体系进行成像
机译:通过环境扫描电子显微镜(ESEM)和使用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)的化学分析观察到的沥青的微观结构
机译:斑马鱼幼虫固定在用于环境扫描电子显微镜(ESEM)成像的基于芯片的设备上
机译:扫描电子显微镜中同时进行的明场和暗场扫描透射电子显微镜:一种分析聚合物系统形态的新方法。
机译:准牛顿环境扫描电子显微镜(QN-ESEM)用于监测高压气体环境中的材料动态
机译:准牛顿环境扫描电子显微镜(QN-ESEM)用于监测高压气体环境中的材料动态