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机译:短期兴奋状态的寿命测量,AS-69和GE-66核的形状变化
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机译:TPEN:三箔差动柱塞,用于测量外来核中激发态的寿命
机译:W-163中激发态的寿命测量以及过渡核的异常B(E2)比率的影响
机译:使用Labr_3(CE)检测器进行“有趣”核的激发状态的精确寿命测量
机译:从寿命信息到重核激发态的结构分配
机译:评估激发态寿命的单光子计数测量
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机译:亚稳态激子态的亚纳秒寿命测量