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机译:通过CH3(CH2)N的潜在诱导的缺陷监测变形(CH2)N?1SH自组装单层上的金色:EIS研究链长对底裂和SAMS异质性的影响
*Laboratoire des Revêtements Matériaux et Environnement Faculté des Sciences de l’Ingénieur Université?M’hamed ?Bougara Boumerdes Bourmerdes 35000 Algeria;
*Laboratoire des Revêtements Matériaux et Environnement Faculté des Sciences de l’Ingénieur Université?M’hamed ?Bougara Boumerdes Bourmerdes 35000 Algeria;
§Faculté de Sciences Exactes Université Frères Mentouri Constantine 1 Constantine 25017 Algeria;
SAMs; electrodeposition; induced defects; EIS; CPE; subdiffusion;
机译:通过CH3(CH2)N的潜在诱导的缺陷监测变形(CH2)N?1SH自组装单层上的金色:EIS研究链长对底裂和SAMS异质性的影响
机译:HS-(CH2)(n)-荧光素和HS-(CH2)(6)-poly(dT)(18)-荧光素自组装单层在循环伏安条件下的原位荧光光谱
机译:扫描电化学显微镜(SECM)研究不同链长卟啉自组装单分子膜(SAMs)的研究
机译:自组装在金(111)上的N烷单分子膜的摩擦性能与链长的关系
机译:离子/表面相互作用:对自组装单层表面烃链长度影响的研究。
机译:原位电阻法监测纳米多孔金上自组装L-半胱氨酸单层的吸附和解吸
机译:链长对正构烷硫醇自组装单分子膜在Au(111)上的粘附行为的影响:原子力显微镜研究