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机译:“水窗”中的化学剂量测定:通过强烈的软X射线产生的铁离子和羟基自由基
Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences Na Slovance 1999/2 182 21 Prague 8 Czech Republic;
Institute of Optoelectronics Military University of Technology Kaliskiego 2 Str. 00-908 Warsaw Poland;
Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences Na Slovance 1999/2 182 21 Prague 8 Czech Republic;
Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences Na Slovance 1999/2 182 21 Prague 8 Czech Republic;
Lebedev Physical Institute of the Russian Academy of Sciences Leninskij Prospekt 53 119991 Moscow Russia;
Institute of Optoelectronics Military University of Technology Kaliskiego 2 Str. 00-908 Warsaw Poland;
Institute of Optoelectronics Military University of Technology Kaliskiego 2 Str. 00-908 Warsaw Poland;
Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences Na Slovance 1999/2 182 21 Prague 8 Czech Republic;
Chemical Dosimetry; Water Window; Ferric Ions;
机译:“水窗”中的化学剂量测定:通过强烈的软X射线产生的铁离子和羟基自由基
机译:电子温度优化,用于高效水窗软X射线排放,从而产生高电荷的锆离子
机译:在低压氮气氛下激光产生的Au等离子体的水窗软X射线发射的增强
机译:羟基自由基的电化学产生羟基自由基脚印实验
机译:使用原位X射线吸收光谱法测定电化学电池中铂和铂基合金电极上的氢,氧和羟基自由基化学吸附位点。
机译:使用简单的光学检测方法对高通量羟自由基蛋白质足迹应用的羟自由基剂量法
机译:在Sargasso海水中产生气泡产生的新生海洋气溶胶的水提物中的光化学产生羟基自由基和氢过氧化物。
机译:超螺旋质粒DNa暴露于高LET和低LET电离辐射产生的DNa损伤:羟基自由基猝灭剂的影响。 DNa断裂,中子,OH自由基