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Laserscanning-Mikroskop zur 3D-Oberflachenanalyse

机译:激光扫描显微镜3D表面分析

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摘要

Das neue 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X von Keyence bietet eine Vielzahl an neuen und verbesserten Funktionalitaten, z. B. die bewahrte konfokale Lochblendenoptik und die Fokusvariation nach ISO 25178-6.
机译:Keyency Model系列的新型3D激光扫描显微镜提供了各种新的和改进的功能,例如, 例如,根据ISO 25178-6,keaked共焦冲频和焦点变化。

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