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【24h】

KOORDINATENMESSSYSTEME: Rauheitsmessung inklusive

机译:坐标测量系统:包括粗糙度测量

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摘要

Mit dem ersten rein optischen Koordinatenmesssystem μCMM brachte Bruker Alicona frischen Wind in den Koordinatenmesstechnikmarkt. Nur zwei Jahre nach der globalen Markteinfuhrung gibt es weitere technologische Entwicklungen des Messprinzips der Fokus-Variation, neue Automatisierungsoptionen und eine neue Bedienersoftware. Das μCMM ist laut Bruker Alicona das genaueste, rein optische Mikrokoordinatenmesssystem seiner Klasse. Anwender verbinden damit Vorteile aus der taktilen Koordinatenmesstechnik und der optischen Oberflachenmesstechnik und messen mit nur einem Sensor Mass, Lage, Form und Rauheit von Bauteilen. Das Koor-dinatenmessgerat bietet hohe geometrische Genauigkeit von mehreren optischen 3D-Messungen zueinander, was die Messung von kleinsten Oberflachendetails inklusive praziser Bestimmung der Lage ermoglicht. Die 3D-Messung erfolgt lediglich an den relevanten Messstellen und damit in sehr kurzer Zeit. Anwender verifizieren mit nur einem Sensor sowohl die Oberflachenrauheit als auch GD&T Merkmale mit Toleranzen im einstelligen μm-Bereich. Das Spektrum messbarer Oberflachen inkludiert inklusive matte und polierte, spiegelnde Bauteile samtliche industrieublichen Materialien und Verbundstoffe wie Kunststoff, PKD, CFK, Keramik, Chrom, bis hin zu Silizium.
机译:通过第一纯光坐标测量系统μcmm,Bruker Alicona将新鲜的风带入坐标计量市场。全球市场进口只有两年,焦点变化测量原理,新的自动化选项和新用户软件等其他技术发展。根据Bruker Alicona的说法,μCMM是其阶级最准确,纯的光学微电区测量系统。因此,用户将优势与触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优点相结合,并且只有一个传感器质量,位置,形状和组件的粗糙度的测量。 Cooor Dinene测量装置彼此提供多个光学3D测量的高几何精度,这允许测量最小的表面细节,包括对言论的判定情况。 3D测量仅在相关的测量点处进行,因此在很短的时间内进行。用户只使用一个传感器验证表面粗糙度和GD&T功能,在单位μm范围内具有公差。可测量表面的光谱包括垫和抛光,反射组件所有工业建筑材料和复合材料,如塑料,PKD,CFRP,陶瓷,铬,达硅。

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