首页> 外文期刊>材料とプロセス: 日本鉄鋼協会講演論文集 >( S256) 陽電子寿命法を用いた高強度鋼の水素環境下での格子欠陥挙動の研究
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( S256) 陽電子寿命法を用いた高強度鋼の水素環境下での格子欠陥挙動の研究

机译:(S256)使用正电子寿命法在高强度钢氢气环境下晶格缺陷行为的研究

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摘要

水素脆化や、それによる遅れ破壊現象においても、転位や空孔などの格子欠陥が関与していることが推測される。当研究室では格子欠陥を敏感に検出·定量可能な陽電子寿命法を用いて、SUS410 鋼の低速度引張試験における塑性変形過程における格子欠陥の形成挙動について調査を行ってきた1)。その結果、同歪量で比較すると、水素添加により点密度、空孔密度は変化せず、空孔のクラスタリングが促進されていることが明らかになっている。本研究では、ボルト用鋼(SCM435)を対象に、低速度引張試験や定荷重試験における格子欠陥の形成挙動を調査した。
机译:推测氢脆和延迟延迟崩溃现象,也涉及脱位和空位等网格缺陷。 在我们的实验室中,我们研究了使用可以检测和量化晶格缺陷的正电子寿命方法在SUS410钢的低速拉伸试验中塑料变形过程中晶格缺陷的形成行为。1)。 结果,与相同的菌株相比,已经发现密度密度和孔隙率密度不通过氢化而改变,促进孔的聚类。 在这项研究中,我们研究了螺栓钢低速拉伸试验和恒定载荷试验中晶格缺陷的形成行为(SCM 435)。

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