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机译:AG / M(m = Ni,Cu,W和Pd)和Cu / Cr接口的界面稳定性和电子性质
Xi An Jiao Tong Univ Sch Mat Sci &
Engn State Key Lab Mech Behav Mat Xian 710049 Shaanxi Peoples R China;
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Engn State Key Lab Mech Behav Mat Xian 710049 Shaanxi Peoples R China;
Changan Univ Sch Mat Sci &
Engn Xian 710064 Shaanxi Peoples R China;
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