Analyse bei Schadensermittlung hilfreich: Mit XPS die Ursachen von Oberflachenfehlern klaren

摘要

Lackierte Oberflachen sind im Automobilbau aufgrund ihrer dekorativen Eigenschaften sowie ihrer Schutzfunktion bedeutend.Treten dort Lackfehler auf,so ist eine schnelle und zielfuhrende Schadensanalyse durchzufuhren.Benetzungsstorungen und Haftfestigkeitsverluste werden haufig von extrem dunnen Kontaminationsschichten verursacht,welche die Oberfla-chenenergie des Bauteils herabsetzen.Optisch sind diese Schichten am Rohteil nicht zu erkennen,sodass derartige Bauteile in den nachsten Produktions-prozess gelangen.Um die wenige Na-nometer dicken Schichten zu charakterisieren,wird eine extrem oberflachenempfindliche Analysenmethode,wie zum Beispiel die XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy),benotigt.Bei der XPS wird die Oberflache der Probe mit Rontgenstrahlen bestrahlt,woraufhin Bindungselektronen aus dem Festkorper herausgelost und als Photoelektronen detektiert werden.Die Energie der Photoelektronen ist charakteristisch fur die verschiedenen,in der Probe vorkommenden chemischen Elemente und erlaubt daher eine Identifizierung der Elementzusam-mensetzung.Ausgewertet werden nur sehr oberflachennah emittierte Elektronen,die auf ihrem Weg zur Oberflache keine Stosse mit anderen Atomen oder Elektronen erfahren.