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Investigation of multi-beam interference under asymmetric exposure conditions

机译:不对称暴露条件下多光束干扰的研究

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摘要

In this paper, the complex patterns of multi-beam interference under asymmetric conditions, i.e. the interfering beams with non-identical amplitude, incidence, azimuth or polarization, were investigated both theoretically and experimentally. The presented interference patterns of various exposure combinations suggest that the change of incidence or azimuth angle affects both the pattern period and shape, while the change of amplitude or polarization does not affect the period at all, but only the pattern shape. This finding should be useful when utilizing holographic lithography to fabricate periodically arranged patterns.
机译:在本文中,在理论上和实验上,在非相同幅度,发病率,方位角或偏振下的干扰光束在非相同振幅,发生率,方位角或偏振中的复杂模式。 各种曝光组合的所呈现的干扰模式表明入射或方位角的变化影响图案周期和形状,而幅度或极化的变化不会影响到所有的时段,而是仅影响图案形状。 当利用全息光刻来制造定期布置的图案时,该发现应该是有用的。

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