机译:通过原位可变温度ToF-SIMS和接触角测量检测聚(2、3、4、5、5、6-五氟苯乙烯)薄膜的表面迁移率
Poly (2; 3; 4; 5; 6-pentafluorostyrene); ToF-SIMS; Principal component analysis; Contact angles; Thin films; Surface reorientation;
机译:通过原位可变温度ToF-SIMS和接触角测量检测聚(2、3、4、5、5、6-五氟苯乙烯)薄膜的表面迁移率
机译:使用动态接触角测量,NEXAFS和XPS研究聚(二甲基硅氧烷-共二苯基硅氧烷)改性的聚(酰胺酸)膜的表面分子取向
机译:接触角测量法表征导电性多(3-氯噻吩)薄膜的表面改性
机译:通过XPS,TOF-SIMS,光学轮廓和接触角测量对桉木和白蜡木贴面进行表面表征
机译:通过接触角测量和椭圆偏振法对硅和二氧化硅表面进行原位研究。
机译:通过飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)对聚(环氧乙烷)涂覆聚氨酯表面对聚苯和纤维蛋白原吸附的检测
机译:通过动态接触角测量探测聚甲基丙烯酸正烷基酯的表面迁移率和结构转变