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Estimation of emission properties for silica particles using thermal radiation spectroscopy

机译:使用热辐射光谱法估算二氧化硅颗粒的发射特性

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摘要

This paper shows that spectrally resolved thermal radiation from silica aggregate particles can be used to extract an emissivity and a temperature in the visible regime. Emissivity of silica aggregate particles at temperatures above 2000 K is measured by the analysis of emission radiation spectra from the particles. Temperature is estimated from the relation between the emission intensity and the wavenumber. Relative emissivities at temperatures from 2150 to 2919 K are presented. Proper knowledge of optical properties for silica aggregate particles will help further the understanding of thermophysics at high temperature.
机译:本文表明,可利用二氧化硅聚集体颗粒的光谱解析热辐射来提取可见光区域的发射率和温度。二氧化硅聚集体颗粒在高于2000 K的温度下的发射率通过分析颗粒的发射辐射光谱进行测量。根据发射强度与波数之间的关系估算温度。给出了在2150至2919 K温度下的相对发射率。正确了解二氧化硅聚集体颗粒的光学性质将有助于进一步了解高温下的热物理性质。

著录项

  • 来源
    《Applied optics 》 |2011年第22期| 共6页
  • 作者

    Jeonghoon Lee;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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