机译:Al2O3中杂质的氢钝化
metal-oxide-semiconductor structure; leakage currents; dielectrics; impurities; passivation; hydrogen;
机译:Al2O3中杂质的氢钝化
机译:原子层沉积Al2O3薄膜和Al2O3 / SiO2堆叠中的氢诱导界面钝化
机译:氢诱导的Al2O3薄膜和SiO2 / Al2O3叠层钝化Si界面
机译:使用单个Al2O3层进行氢化的超薄多晶硅钝化触点的优异钝化
机译:晶体硅中晶界和位错的电学性质:杂质掺入和氢化的影响。
机译:ALD Al2O3背面钝化Al2O3 PERC电池性能以及Al2O3 PERC电池效率损失机制的数据
机译:氢诱导的Al2O3薄膜和SiO2 / Al2O3叠层对Si界面的钝化
机译:硅缺陷和杂质的氢钝化研究:最终转包报告,2000年5月2日至2003年7月2日