...
首页> 外文期刊>Радиотехника и электроника >ТЕПЛОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ МОЩНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. I. МОДЕЛЬ ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ТРАНЗИСТОРА С ДЕФЕКТАМИ
【24h】

ТЕПЛОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ МОЩНЫХ БИПОЛЯРНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. I. МОДЕЛЬ ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ТРАНЗИСТОРА С ДЕФЕКТАМИ

机译:强大的双极性半导体器件的热电模型。 I.带有缺陷的高频晶体管的模型

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

Предложена обобщенная теплоэлектрическая модель биполярного полупроводникового прибора с учетом действующих в приборной структуре механизмов теплоэлектрической обратной связи и наличия в конструкции прибора макродефектов различной физической природы. На ее основе разработаны теплоэлектрические модели высокочастотного мощного биполярного транзистора (МБТ) с дефектами электрофизического и теплофизического вида. Получены зависимости максимального перегрева рабочей поверхности кристалла от размера и месторасположения дефектов. Показано, что температурная зависимость плотности мощности, выделяющейся в структуре МВТ, приводит к нелинейной зависимости максимальной и средней температуры поверхности кристалла от полной потребляемой МВТ мощности. Результаты расчетов удовлетворительно согласуются с экспериментальными зависимостями тепловых сопротивлений переход-корпус конкретных типов МВТ от рассеиваемой мощности.
机译:考虑到在器件结构中运行的热电反馈机制以及器件结构中存在各种物理性质的宏观缺陷,提出了一种双极型半导体器件的广义热电模型。在此基础上,开发了具有电物理缺陷和热物理缺陷的高频大功率双极晶体管(MBT)的热电模型。获得了晶体工作表面的最大过热对缺陷的尺寸和位置的依赖性。结果表明,MWT结构中释放的功率密度的温度依赖性导致晶体表面的最高温度和平均温度与MWT消耗的总功率呈非线性关系。计算结果与特定类型的MVT接线盒的热阻对耗散功率的实验依赖关系令人满意。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号