静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム

摘要

VLSIのテストパターン数はテストコストに比例するため，テストパターン数を削減するテスト圧縮技術が重要である．本論文では，初期テスト集合に対して，必須割当て情報と多重目標故障テスト生成を用いて，N個のテストパターンを追加して，M個のテストパターンを削除するMバイN（M＞N）アルゴリズムを提案する．削除するM個のテストパターンを選択するために，必須故障の必須割当て情報を利用し，両立グラフである同時検出可能故障グラフを作成し，最大クリークを抽出する．削除対象のM個のテストパターンでのみ検出可能な故障をN個のテストパターンで検出するために，SATベースの多重目標故障テスト生成を用いる．