赤外線2次元ロックインアンプによる基板近傍電磁界分布測定

摘要

筆者らが開発した電磁界強度分布測定装置は，電磁波を吸収し発熱する幕の温度分布を赤外線カメラで測定することで電磁界強度に応じた2次元の温度変化分布を観測することができる．また，検出装置自体が電磁界分布を乱すことは少なく，電磁波源近傍の測定も可能である．本装置を用いれば電磁界解析に時間を要する高密度実装電子回路基板などであっても，回路の不要電磁輻射評価に有用な近傍電磁界強度の可視化が容易であると考えられる．本論文では，本装置によってダイポールアンテナ近傍の電界／磁界強度分布を観測した結果と，電磁波吸収幕の温度変化と電界／磁界強度の関係を求めた結果を示す．さらに，マイクロストリップライン，および，バランスフィルタを実装した回路基板のごく近傍に形成される高周波電界の観測を試みた結果を報告する．