机译:通过几种路径延迟测试来分析制造芯片上子路径的延迟
Path-delay Test; Normal Distribution; Sub-path; Delay;
机译:通过几种路径延迟测试来分析制造芯片上子路径的延迟
机译:使用分层模块实现对称功能以实现卡滞和路径延迟故障可测试性
机译:使用分层模块实现对称功能,以实现卡入和路径延迟故障可测试性
机译:通过几种路径延迟测试来分析制造的芯片上子路径的延迟
机译:硬件特洛伊木马和再生IC检测的金芯片自由侧通道延迟分析试验
机译:使用记录光盘的制造电极的基于微芯片分析系统
机译:改进的路径聚类,用于自适应路径延迟测试