首页> 外文期刊>ПЕРСПЕКТИВНЫЕ МАТЕРИАЛЫ >Структура и вольт-амперные характеристики электрических контактов медь - вольфрам, полученных на установке Плазменный фокус
【24h】

Структура и вольт-амперные характеристики электрических контактов медь - вольфрам, полученных на установке Плазменный фокус

机译:等离子聚焦装置获得的铜-钨电触点的结构和电流-电压特性

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Исследованы структура и вольт-амперные характеристики (ВАХ) электрических контактов медь - вольфрам, напыленных на установке 《Плазменный фокус》. Показано, что приведенное сопротивление контактов при 300 К составляет -0,4-10~(-6) Ом-см~2, при 80 К - 0,4-10(-7) Ом-см~2, что удовлетворяет самым высоким требованиям к омическим контактам в электрических установках и полупроводниковой электронике. Образование микротрещин на поверхности вольфрама при воздействии высокоскоростных потоков плазмы не оказывает заметного влияния на сопротивление контактов. Расплав меди, проникая под действием высокого давления плазмы вглубь вольфрама по трещинам, застывая, создает области повышенной проводимости. Пайка электрических контактов оловянным припоем приводит к отклонению ВАХ от линейности при 80 К. Возможно, причиной этого является формирование барьеров Шоттки SnO_2-медь на поверхности Cu - W контактов.
机译:研究了在Plasma Focus装置上沉积的铜-钨电触点的结构和电流-电压特性(IV)。结果表明,在300 K时降低的接触电阻为-0.4-10〜(-6)Ohm-cm〜2,在80 K时-0.4-10(-7)Ohm-cm〜2满足最高电气装置和半导体电子设备中欧姆接触的要求。在高速等离子流的作用下在钨表面上形成的微裂纹不会显着影响接触电阻。铜熔体在高等离子压力的作用下通过裂纹渗透而凝固,从而形成了导电率提高的区域。用锡焊料焊接电触点会导致I–V特性与80 K时的线性度发生偏差。可能的原因是在Cu-W触点表面上形成了SnO_2-铜肖特基势垒。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号