0－1整数計画問題を利用した欠陥検出向けテストパターン選択法

摘要

本論文は，検査対象の故障箇所に対する故障励起条件を考慮した欠陥検出確率を新たに導入し，その 欠陥検出確率に基づいて，0－1整数計画問題としてテストパターン選択法を定式化する手法を提案して いる．微細化加工技術の進展に伴ってLSIの高品質化のためには，縮退故障および遷移故障に加えて， 配線の抵抗性ブリッジ故障および抵抗性オープン故障などの動的な故障を検出可能なテストパターン の生成が必要である．これまでは，故障箇所の単一縮退故障または単一遷移故障に対して異なるN個の テストパターンを生成する手法が提案されている．しかしながら．そのテストパターン集合のサイズと 欠陥検出率にトレードオフ関係があり，定められたサイズのテストパターン集合における欠陥検出率の改善が望まれていた．