光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析

摘要

光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。 Ru添加InP SIBHを導入したDFBレーザは85℃の高温で長期安定動作することが確認された。 OBIC測定法によって、SCH層の劣化は活性層の劣化に比べ大きいことがわかった。レーザの劣化機構は断面垂直方向の拡散によるものであると傍証される。