КОЛИЧЕСТВЕННОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПРИМЕСЕЙ В ОБРАЗЦАХ С МАССОЙ В ДИАПАЗОНЕ НАНОГРАММ В СХЕМЕ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА С ВТОРИЧНЫМ ИЗЛУЧАТЕЛЕМ

摘要

Приведены результаты рентгенофлуоресцентных исследований предела обнаружения массы вещества и чувствительности анализа для схемы с вторичным излучателем. Сопоставлены результаты для ряда известных методик подготовки пробы. Рассмотрена возможность использования высокостабильных пленочных стандартных образцов нанограммного масштаба массы для количественных измерений следовых примесей.