首页>
外文期刊>Приборы и техника эксперимента
>ВЫДЕЛЕНИЕ ЛИНИЙ ИЗЛУЧЕНИЯ МНОГОЗАРЯДНЫХ ИОНОВ НА ФОНЕ СИЛЬНО ЗАШУМЛЕННОГО СПЕКТРА ФЕМТОСЕКУНДНОЙ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ
【24h】
ВЫДЕЛЕНИЕ ЛИНИЙ ИЗЛУЧЕНИЯ МНОГОЗАРЯДНЫХ ИОНОВ НА ФОНЕ СИЛЬНО ЗАШУМЛЕННОГО СПЕКТРА ФЕМТОСЕКУНДНОЙ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ
При больших интенсивностях взаимодействия фемтосекундных лазерных импульсов с различными мишенями многочисленные высокоэнергичные частицы, излучаемые плазмой во всех направлениях, приводят к появлению паразитных пиков на рентгеновских спектрах фемтосекундной лазерной плазмы в случае регистрации их детектором на основе прибора с зарядовой связью (п.з.с). В данной работе предложен алгоритм, позволяющий идентифицировать паразитные пики в серии экспериментально зарегистрированных спектров для каждой ячейки п.з.с.-детектора независимо от остальных ячеек и затем удалять их. Алгоритм способен обнаруживать пики при наличии вариаций интенсивности спектральных линий и очень большого уровня шума. Эффективность алгоритма подтверждена тестированием с помощью серии модельных спектров и спектров ионов железа и алюминия, полученных в экспериментах по исследованию взаимодействия сверхинтенсивных и сверхкоротких лазерных импульсов с твердотельными мишенями.
展开▼