Представлены результаты комплексных исследований атомной структуры и морфологии пленок металлосодержащих алмазоподобных нанокомпозитов, выполненных на кафедре полупроводниковой электроники МЭИ с помощью просвечивающего и растрового электронных микроскопов, а также современного сканирующего зондового микроскопа SOLVER PRO.
展开▼