Влияние дефектов в монохроматоре накривые дифракционного отражения высокоразрешающейдвухкристальной рентгеновской дифрактометрии

摘要

Создана теоретическая модель дифракциирентгеновских лучей в высокоразрешающемдвухкристальном дифрактометре (ДЕД) с учетом эффектовдиффузного рассеяния от дефектов в кристаллахмонохроматора. Показано их существенное влияние наинструментальную функцию ДКД, Проведен сравнительныйанализ результатов диагностики дефектов в различныхмонокристаллах без учета и с учетом этих эффектов,который продемонстрировал необходимость их учета дляадекватной количественной диагностики.