首页> 外文期刊>Оптика и спектроскопия >ОПТИЧЕСКИЕ ПОСТОЯННЫЕ НАНОМЕТРОВЫХ ПЛЕНОК J-АГРЕГАТОВ ОРГАНИЧЕСКИХ КРАСИТЕЛЕЙ, ИЗМЕРЕННЫЕ МЕТОДАМИ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ И ПОЛЯ
【24h】

ОПТИЧЕСКИЕ ПОСТОЯННЫЕ НАНОМЕТРОВЫХ ПЛЕНОК J-АГРЕГАТОВ ОРГАНИЧЕСКИХ КРАСИТЕЛЕЙ, ИЗМЕРЕННЫЕ МЕТОДАМИ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ И ПОЛЯ

机译:J-有机染料纳米单元的光学常数的光谱椭偏和场法测量

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

С использованием методов спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлекто,метрии измерена дисперсия комплексного показателя преломления тонких пленок J-агрегатов органических красителей. Обнаружено, что практически для всех пленок J-агрегатов в длинноволновой области, где пленка прозрачна, наблюдается нормальная дисперсия. В спектральном диапазоне, где пленка поглощает, наблюдается аномальная дисперсия, которая в J-пике максимальна. Здесь показатель преломления достигает значения п = 2.5-3.5. Выявлено, что метод поляризационной рефлектомет-рии обеспечивает адекватную точность определения оптических постоянных и и к нанометровых пленок органических красителей.
机译:使用光谱椭圆偏振法和偏振反射率的方法,测量了有机染料J聚集体薄膜的复折射率的色散。已经发现,对于几乎所有的J聚集膜,在透明的长波长区域中观察到正常色散。在薄膜吸收的光谱范围内,观察到反常色散,在J峰最大。在此,折射率达到n = 2.5-3.5。揭示了偏振反射法的方法在确定光学常数和提供有机染料的纳米膜方面提供了足够的精度。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号