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X-Ray Fluorescence Analysis of Ultralow Pollution in Conditions of Total Reflection of the X-Ray Beam Formed by Slitless Collimator

机译:无缝隙准直仪形成的X射线束全反射条件下超低污染的X射线荧光分析

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摘要

Special features of XFA TIR spectroscopy are considered in conditions of using slitless collimator to form a beam of x-ray exciting radiation. Analytical potentialities of the spectrometer are evaluated and emphasis is made on extremely low limits of admixture determination, vanilla design and relatively low cost of the modified spectrometer.
机译:在使用无缝准直仪形成X射线激发辐射束的条件下,可以考虑XFA TIR光谱的特殊功能。评估了光谱仪的分析潜力,并着重于掺混物测定,香草设计和改良光谱仪相对较低成本的极低限制。

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