Представлены результаты изучения методом СВЧ-фотопроводимости влияния предварительной обработки порошкообразного хлорида серебра водными растворами тиосульфата натрия (TCH) на кинетику электрон-ионных процессов в нем. При интенсивностях возбуждающего УФ-света <10~(14) фотон см за импульс спад СВЧ-фотоотклика после окончания импульса состоял из двух экспоненциальных компонент во всем исследованном диапазоне концентраций 10~(-8)-10~(-2) моль (TCH)/моль (AgCl). Амплитуды компонентов и соотношение характеристических времен медленного тм и быстрого хб компонентов зависели от концентрации TCH, что было связано с образованием дополнительного количества "новых" ловушек электрона в AgCl. Анализ кинетики в рамках моделей, учитывающих разные типы процессов гибели избыточного электрона, позволил получить данные о глубине "старых" (0.45 эВ) и "новых" создаваемых TCH (0.45-0.63 эВ) ловушек в AgCl.
展开▼