...
首页> 外文期刊>Химия высоких энергий >ВЛИЯНИЕ ТИОСУЛЬФАТА НАТРИЯ НА КИНЕТИКУ ЭЛЕКТРОН-ИОННЫХ ПРОЦЕССОВ В ПОРОШКООБРАЗНОМ ХЛОРИДЕ СЕРЕБРА
【24h】

ВЛИЯНИЕ ТИОСУЛЬФАТА НАТРИЯ НА КИНЕТИКУ ЭЛЕКТРОН-ИОННЫХ ПРОЦЕССОВ В ПОРОШКООБРАЗНОМ ХЛОРИДЕ СЕРЕБРА

机译:硫代硫酸钠对粉状氯化银中电子离子动力学的影响

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Представлены результаты изучения методом СВЧ-фотопроводимости влияния предварительной обработки порошкообразного хлорида серебра водными растворами тиосульфата натрия (TCH) на кинетику электрон-ионных процессов в нем. При интенсивностях возбуждающего УФ-света <10~(14) фотон см за импульс спад СВЧ-фотоотклика после окончания импульса состоял из двух экспоненциальных компонент во всем исследованном диапазоне концентраций 10~(-8)-10~(-2) моль (TCH)/моль (AgCl). Амплитуды компонентов и соотношение характеристических времен медленного тм и быстрого хб компонентов зависели от концентрации TCH, что было связано с образованием дополнительного количества "новых" ловушек электрона в AgCl. Анализ кинетики в рамках моделей, учитывающих разные типы процессов гибели избыточного электрона, позволил получить данные о глубине "старых" (0.45 эВ) и "новых" создаваемых TCH (0.45-0.63 эВ) ловушек в AgCl.
机译:本文介绍了通过微波光电导方法研究的研究结果,即用硫代硫酸钠(TCH)水溶液预处理氯化银粉对其中的电子离子过程动力学的影响。在每个脉冲<10〜(14)光子cm的激发紫外光强度下,脉冲结束后微波光响应的衰减在整个研究浓度范围10〜(-8)-10〜(-2)mol(TCH)中由两个指数成分组成/ mol(AgCl)。组分的振幅和慢的tm和快的hb组分的特征时间之比取决于TCH浓度,这与在AgCl中形成额外数量的“新”电子陷阱有关。对模型框架内动力学的分析,考虑到过剩电子损失的不同类型过程,使得有可能获得有关AgCl中“旧”(0.45 eV)和“新” TCH产生(0.45-0.63 eV)陷阱深度的数据。
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号