Разработана методика и устройство, обеспечивающие измерения зависимостей тангенса угла диэлектрических потерь и диэлектрической проницаемости от напряженности управляющего электрического поля для нелинейной диэлектрической керамики в диапазоне частот 200-2000 MTц. Приведены данные этих зависимостей для сегнетоэлектрических керамических образцов Ba_xSr_(1-x)TiO_3 различного состава и управляющих напряжений до 10 кВ.
展开▼
