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【24h】

陽電子が視つけた水素吸蔵に伴う原子空孔生成

机译:正电子所见的与氢存储有关的原子空位

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摘要

陽電子寿命測定による物質中の格子欠陥研究ほ,極めて高感度にその場測定が可能であり,しかも各欠陥種とその濃度を独立に求めることができるという画期的な特長を有する。 これらの特長は,陽電子が物質を構成する電子の反粒子である点に起因することを考えれば,陽電子はこの分野における究極のプローブと考えられ,この方面での陽電子の重要性は今後ますます増大することが予想される。 ここで紹介した結果は,水素吸蔵合金の特性研究においても,陽電子がプローブとして大変有用であることを明瞭に示している.今後は,水素吸放出時の陽電子寿命その場測定を通じて,吸蔵·放出にみられるヒステリシス現象,繰り返し使用による性能劣化現象,水素誘起アモルファス化現象等,水素による固溶媒体の構造変化メカニズムの原子スケールでの解明に一役買いたいと願っている。
机译:具有划时代的特征,可以通过测量正电子寿命来测量物质中的晶格缺陷,并且可以以极高的灵敏度进行原位测量,并且可以独立地获得每种缺陷类型及其浓度。考虑到这些特征是由于正电子是构成物质的电子的反粒子这一事实,正电子被认为是该领域的终极探索者,并且正电子在该方向上的重要性将来会越来越高。预计会增加。这里介绍的结果清楚地表明,在研究储氢合金性能方面,正电子非常有用。将来,通过原位测量氢吸收和解吸期间的阳离子寿命,氢引起的固体溶剂的结构变化机理的原子尺度,例如在储存和释放中出现的磁滞现象,由于重复使用而导致的性能下降现象以及氢诱导的非晶化现象。我希望在阐明中发挥作用。

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