角度分散型2次元X線回折図形の全パターンフィッティング手法の開発と多結晶体試料への応用について

摘要

平面イメージングプレート（IP）を用いた角度分散透過X線回折実験は高圧で合成した多結晶体試料の評価に広く利用されており、撮像したデバイリング図形は一次元化して角度（2θ）－強度プロファイルに変換することが多いが、この際に二次元の強度分布が含んでいる結晶の配向性や粒子サイズに関連する情報は失われてしまう。本研究ではIP 上の二次元的な回折強度分布に対して、コンピュータプログラムを用いて全パターンフィッティングを行い、配向性や格子歪みの情報を抽出する方法を提案する。