不揮発性体積型ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性

摘要

我々は従来のLSI技術に光メモリ技術を組み合わせることで高速に演算を行うダイナミック光再構成型ゲートアレイ(ORGA: Optically Reconfigurable Gate Array)の研究開発を進めている．光再構成型ゲートアレイはレーザアレイ，ホログラムメモリ，ゲートアレイVLSIの3つの要素で構成され，ホログラムメモリから完全並列に再構成コンテキストを読み出すことにより，高速な再構成が可能である．このデバイスは構造上，高い不良耐性を持つため，我々は宇宙分野への応用に関しても研究を進めている．今回は不揮発性体積型液晶ホログラムメモリを導入したダイナミック光再構成型ゲートアレイの不良耐性に関する研究結果を報告する．