磁粉探傷試験における磁粉付着過程の観測と漏洩磁束密度の評価

摘要

工業製品や構造物の安全性を保証するためには、材料に発生し得る欠陥（破損、損傷）を非破壊的に検査することが必要である。非破壊検査手法の一つである磁粉探傷試験は、簡便な検査で極微小な欠陥をも発見できるため、多種多様な産業分野において適用されている。しかし、従来の磁粉探傷試験では、欠陥の有無を判別する検査に留まっており、欠陥を定量評価する手法は未だ確立されていない。本研究では、磁粉探傷試験においてき裂を定量評価する手法の開発を目的とし、その基礎的研究を行った。高速度カメラによる磁粉付着過程の動画像計測、数値解析による欠陥形状をパラメータにした漏洩磁束密度の評価に関する結果を報告する。