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気相法による酸化亜鉛半導体薄膜のステップフローホモエピタキシャル成長

机译:气相法逐步生长氧化锌半导体薄膜

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摘要

このような問題に対し,われわれは原料として有機金属を用いるのではなく,安全な化合物を利用できる,ミストCVD法による結晶成長に取り組んできた.この技術の詳細は以下で述べるが,高品質の単結晶薄膜の成長にとってあまりに簡便であるという印象を与えがちである.しかし,対象が酸化物であるがゆえに不純物混入の影響を受けにくく,また溶媒に含まれる酸素が十分な酸素分圧を与え,酸素空孔の生成を抑えるのに寄与する.実際,サファイア基板を用いたヘテロエピタキシャル成長により,MOCVD法と比べて比較的高い90cm~2/Vs程度の高い移動度を持つZnO薄膜をこの技術で実現した.本論立では,高品質ZnO薄膜の成長とデバイス応用で本命といえるZnO基板上へのホモエピタキシャル成長において,MOCVDでは困難なステップフロー成長の実現と高品質化に成功した結果に関して報告する.
机译:为了解决这个问题,我们一直在通过薄雾CVD方法进行晶体生长,这使我们能够使用安全的化合物代替使用有机金属作为原材料。该技术的细节将在下面描述,但是倾向于给人一种印象,即对于高质量单晶薄膜的生长来说太方便了。但是,由于靶为氧化物,因此不易受到杂质污染的影响,溶剂中所含的氧赋予足够的氧分压,有助于抑制氧空位的形成。实际上,通过使用蓝宝石衬底的异质外延生长,通过该技术实现了具有比MOCVD法高的约90cm〜2 / Vs的高迁移率的ZnO薄膜。在本文中,我们报告了成功进行分步生长和高质量的结果,这对于MOCVD,高质量ZnO薄膜的生长和ZnO衬底上的同质外延生长是困难的,这可以说是器件应用的最爱。

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