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机译:仅使用一个无后处理步骤就可测量三个CMOS薄膜残余应变的原位微应变仪
CMOS; thin film; residual strains;
机译:仅使用一个无后处理步骤就可测量三个CMOS薄膜残余应变的原位微应变仪
机译:聚合物微尺度结构上的金属薄膜应变片的应变敏感性增强
机译:提出的钻孔应变仪法测量薄板中的非均匀残余应力
机译:用微应变仪测定薄膜杨氏模量的新方法
机译:应变调制生长原位控制钡氧化锆钡和氧化钡锡纳米棒的排列和微观结构。
机译:薄膜/厚膜组合方法实现铝铸件集成铝基应变片传感器
机译:LaSrAIO4缓冲SrTiO3衬底上La2CuO4薄膜的微观结构和残余应变