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机译:基于多个会聚束电子衍射图的晶格参数优化程序
TRENCH ISOLATION STRUCTURES; MICRO-RAMAN SPECTROSCOPY; RESIDUAL STRAIN; BIAXIAL STRESS; CBED PATTERNS; SILICON; RESOLUTION; POLYCRYSTALLINE; RELAXATION; MISFIT;
机译:基于多个会聚束电子衍射图的晶格参数优化程序
机译:通过收敛光束电子衍射在单晶Ni基超合金中的#Gamma#'的晶格参数测量
机译:使用Kossel衍射图样优化晶格参数和确定应变的程序
机译:收敛光束电子衍射的LiCoO {Sub} 2的C晶格参数测定
机译:通过会聚束电子衍射表征低于100 nm的硅晶体管中的应变。
机译:三束会聚电子衍射仪用于测量结晶相
机译:来自GEXSI1-X / SI应变层超晶格的横截面样本的大角度会聚光束电子衍射图中的衍射信息的高空间分辨率
机译:Lehmpfuhl,Krahl和Uchida(1995)对硅中能量过滤会聚束电子衍射图中HOLZ线的对比度的评论