Radiographie par rayons X a haute resolution de defauts topologiques en volume de structures modulees comparee aux neutrons en faisceau blanc

摘要

Une emission de rayons X par un generateur a haute tension (plage : 50-410 kV) a ete developpee pour etre utilisee avec un diffractometre a rayons X durs et caracteriser en volume des monocristaux. Le fort flux issu d'une installation de radiologie a foyer fin avec un grand pouvoir de penetration en profondeur autorise l'etude d'echantillons tres absorbants. Quelques exeraples de Putilisation de ces proprietes pour des echantillons epais et tres absorbants sont presentes ; principalement l'analyse de contraintes et la topographie X projetee 2D dans des materiaux en comparaison avec l'information par la diffraction des neutrons. La diffi-action a haute energie apparait dans la direction transmise, les angles de Bragg sont petits et ainsi les differentes lignes de reflexions sont reparties autour du faisceau principal. La presse uni-axiale utilisee pour les experiences est optimisee effectivement avec l'absence d'un bruit de fond du a l'usage de fentes. L'optique des rayons X durs et neutrons appliquee aux echantillons epais donne une information complementatre dans les experiences sur l'analyse de la densite volumetrique par la diffusion des rayons X et neutrons. On l'applique a des problemes concernant des cristaux aux structures modulees etudiees sous des charges mecaniques et thermiques.