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【24h】

Zinn-Whisker

机译:辛恩·惠斯克

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摘要

Aufgrund der bleifrei-lnitiative der Elektronik-Industrie und der europaischen RoHS-Direktive wechseln viele Bauelement-Hersteller von Zinn-Blei (SnPb) zu Rein-Zinn und Zinn-Basis Legierungen mit geringem Legierungsgehalt fur die Endschichten der lotbaren Oberflachen. Rein-Zinn und hoch zinnhaltige Legierungen sind anfallig fur Whiskerbildung und -Wachstum. Obwohl seit 5 Jahrzehnten Forschungsaktivitaten zur Problematik der Zinn-Whisker laufen, bleibt das grundsatzliche Verstandnis der Wachstumsmechanismen und der Whiskervermeidung luckenhaftl. Daruber hinaus, sowohl aufgrund dieser Verstandnislucken als auch aufgrund der Tatsache, dass die Rate der Whiskerbildung bei Temperaturen deutlich oberhalb von 60℃ langsamer wird, sind bis heute keine beschleunigten Prufbedingungen und Extrapolationsmodelle allgemein etabliert. Deshalb gibt es die Notwendigkeit zur Definition einer Norm, die Praktiken zur Whiskerminimierung und Freigabeprozeduren umfasst und beschreibt, und die sowohl von Zulieferern und Anwendern genutzt werden kann, um die Gefahr der Entstehung von Zinn-Whiskern in Produkten mit hohen Anforderungen an die Zuverlassigkeit zu vermindern. Als Vorlage fur eine solche Norm wurde das Dokument "Anforderungen an Freigabe-Prozeduren fur Zinn-Whisker" von der NEMI Tin Whisker User Group mit Datum vom 12. Mai 2004 publiziert2.
机译:由于电子行业的无铅倡议和欧洲RoHS指令,许多组件制造商正在从锡铅(SnPb)转向纯锡和低合金含量的可焊表面的最后一层的锡基锡合金。纯锡和高锡合金易于产生晶须和生长。尽管有关锡晶须问题的研究活动已经进行了5年,但对生长机理和避免晶须的基本了解仍然很好。另外,由于存在这些理解上的空白,并且由于晶须形成的速率在温度明显高于60℃时较慢,因此,迄今为止尚未普遍建立加速的测试条件和外推模型。因此,需要定义一种标准,其中包括并描述了晶须的最小化实践和批准程序,供供应商和用户使用,以降低可靠性要求高的产品中锡晶须的风险。 。 NEMI锡晶须使用者小组于2004年5月12日发布了文档“锡晶须的释放程序要求”,作为该标准的模板2。

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