机译:通过XRD线展宽分析在TiSiN薄膜中的晶粒尺寸和微应变近似
Approximation method; Size-strain analysis; Thin films; TiSiN; XRD;
机译:通过XRD线展宽分析在TiSiN薄膜中的晶粒尺寸和微应变近似
机译:XRD线轮廓分析的不同方法在估算钨薄膜中晶粒尺寸和微晶粒尺寸中的适用性研究
机译:E-ALD沉积硫化物超薄膜的Operando SXRD:微晶应变和尺寸
机译:氧化铜薄膜:微晶尺寸和导电机理分析
机译:通过纳米晶种增强非晶硅薄膜的结晶。
机译:如果位错和有限的微晶尺寸共同引起的衍射线展宽分析
机译:E-ALD沉积硫化物超薄薄膜的Operando SXRD:微晶菌株和尺寸