机译:低和超低着陆能量的基于模型的CD-SEM计量:先进IC制造的实施和结果
CD-SEM; critical shape metrology; CSM; model-based library; MBL; Monte Carlo; sidewall angle; CD bias; MONTE-CARLO SIMULATION; DIMENSIONAL METROLOGY; UNCERTAINTY; BIAS; AFM;
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机译:用于心脏起搏器中处理ECG的超低能量FFT ASIC的设计与实现
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