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机译:AES和XPS中的弹性散射校正2。估算衰减长度和在覆盖层/基板实验中有效使用所需的条件
XPS; AES; attenuation length; IMFP; elastic scattering; MEAN FREE PATHS; RAY PHOTOELECTRON-SPECTRA; QUANTITATIVE SURFACE-ANALYSIS; LOW-ENERGY ELECTRONS; ESCAPE DEPTHS; RELATIVE INTENSITIES; ANGULAR-DISTRIBUTION; ALUMINUM-OXIDE; SPECTROSCOPY; FILMS;
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