Optische Verarbeitung von interferometrischen Streifenbildern und die Fehlererkennung durch Wavelet-Filterung

摘要

Das Erkennen und Klassifizieren von Fehlern ist eine wichtige Aufgabe der optischen zerstoerungsfreien Materialpruefung in der industriellen Qualitaetskontrolle. Eine Vielzahl von Daten ueber Fehler im Material sind in interferometrischen Streifenmustern enthalten. Diese Daten muessen fuer die weitere Auswertung reduziert werden. Eine Moeglichkeit der Datenreduktion ist durch die Wavelet-Transformation gegeben. Fehler in interferometrischen Streifenmustern sollen durch Wavelet-Filter erkannt, lokalisiert und klassifiziert werden. Wavelet-Funktionen sind sowohl im Ortsraum als auch im Frequenzraum lokalisiert und eignen sich deshalb zur Extraktion von Merkmalen ohne Verlust der raeumlichen Zuordnung. Eine Klassifizierung der Interferogramme ist moeglich, da die Fehlerklassen charakteristische Eigenschaften haben, die mit bestimmten Klassen von Wavelet-Filtern erkannt werden koennen. The detection and classification of faults is a major task for optical non-destructive testing in industrial quality control. Interferometric fringes contain a large amount of data with information about possible defect structures. These data must be reduced for further evaluation. One possible way is the filtering of the images by the adaptive wavelet transform. Faults in interferometric fringe patterns should be detected, localised, and classified by wavelet filters. Wavelet functions are localised in the spatial as well as in the frequency domain. Therefore both the extraction and the localisation of faults is possible by the application of wavelet filters. A classification of interferograms can be realised, because the fault classes have characteristics detectable with a given class of wavelet filters.