Neue BS-Produkte von Gopel electronic -SYSTEM CASCON Tools fur den Test komplexer Speichercluster und CION Module~(TM)/DIMM168

摘要

Die GOPEL electronic GmbH, Jena, hat im Rahmen ihrer Boundary Scan (BS)-Softwarc-Platlform SYSTEM CASCON'~(TM) neue intelligente Tools zum strukturellen Test komplexer Speichercluster auf den Markt gebracht. Diese ermoglichen ein bisher unerreichtes Niveau der Prozessautomatisierung beim Verbindungstest von Speichern mit stark reduziertem BS-Zugriff. Sie unterstutzen alle IEEE1149.1-Applikationsphasen vom Handling der nicht scanfahigen Komponenten und der Automatischen Test-Programm-Generierung (ATPG) uber die automatische Pin-Fehler-Diagnostik (PFD) und die graphische Fehlerlokalisierung bis hin zum Debugging in einer vollstandig integrierten Umgebung. Damit entfallen nicht nur zeitraubende manuelle Analysen zur Testprogrammgene-rierung, sondern es wird insgesamt auch eine wesentlich bessere Testqualitat erzielt. Zentrales Element der neuen Losung ist ein wesentlich intelligenteres ATPG-Tool, gepaart mit einem weiterentwickelten PFD-Prozessor.