Testsystem fur Leiterplatten-Qualifizierungen bis 40 GHz

Josef Koppl

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Testsystem fur Leiterplatten-Qualifizierungen bis 40 GHz

机译：用于高达40 GHz的电路板鉴定的测试系统

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Um den gehobenen Testanforderungen gerecht zu werden, wurde bei Rohde & Schwarz im Werk Teis-nach ein auf einem Netzwerkanalysator basierendes Testsystem zur Leiterplatten-Qualifizierung bis 40 GHz aufgebaut, mudem die bisherigen messtechnischen Limitierungen ubenvunden werden konnen.

机译：为了满足更严格的测试要求，Teis-nach工厂的Rohde＆Schwarz建立了一个基于网络分析仪的测试系统，用于对40 GHz的电路板进行鉴定，必须克服以前的测量限制。

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来源
《PRODUKTION VON LEITERPLATTEN UND SYSTEMEN》 |2006年第11期|共4页
作者
Josef Koppl;
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原文格式 PDF
正文语种 ger
中图分类仪器、仪表;
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